高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱 工業烘箱

 SECS / GEM是用于設備到主機數據通信的半導體設備接口協議。在自動化工廠中，接口可以啟動和停止設備處理，收集測量數據，更改變量并為產品選擇配方。 SECS（SEMI設備通信標準）/ GEM（通用設備模型）標準以確定的方式完成所有這些工作。  由SEMI（半導體設備和材料）組織開發，該標準定義了一套通用的設備行為和通信能力。

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱? 概述

高低溫沖擊烘箱、冷熱沖擊試驗箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業，測試各種材料對高、低溫的反復沖擊能力。檢測產品于熱脹冷縮所產生的化學變化或物理傷害，確保產品的品質。

特點

• 三箱設備區分為：高溫區、低溫區、測試區三部分，測試產品置于測試區，沖擊時高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進行沖擊, 測試產品為靜態式。
• 采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。
• 沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區，做冷熱沖擊測試。

Ø  高溫沖擊或低溫沖擊時，大時間可達999H，大循環周期可達9999次。

• 系統可作自動循環衙擎或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。
• 冷卻采二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。

Ø  可以試驗沖擊常溫執行滿足標準及試驗方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗;GJB360.7溫度沖擊試驗;GB/2423.22 溫度沖擊試驗

符合標準

• GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗
• GB/T 2424.13-2002 溫度沖擊試驗
• GJB 360B-2009 溫度沖擊試驗
• GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
• GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低溫試驗方法
• GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
• GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件規 
• 所有符合GEM的生產設備都具有*的界面和一定的行為。 GEM設備可以使用TCP / IP（使用HSMS標準，SEMI E37）或基于RS-232的協議（使用SECS-I標準，SEMI E4）與支持GEM的主機進行通信。通常這兩種協議都受支持。每臺設備都可以使用由GEM的通用SECS-II消息進行監控和控制。  還有許多額外的SEMI標準和工廠規范參考了GEM標準的特點。